1、原子力显微镜三种成像模式具体内容如下：接触式。接触式AFM是一个排斥性的模式，探针尖端和样品做柔软性的“实际接触”，当针尖轻轻扫过样品表面时，接触的力量引起悬臂弯曲，进而得到样品的表面图形。非接触式。
2、原子力显微镜（AFM）的工作模式主要依据针尖与样品之间的作用力进行分类，主要包括接触模式、非接触模式和敲击模式。接触模式，也称为硬模式，探针尖端与样品表面保持紧密接触，通过排斥力成像。
3、AFM操作模式多样，包括接触模式、非接触模式和敲击模式。接触模式适合硬表面，但需注意对样品可能的损伤；非接触模式适用于柔嫩表面，但需克服大气中水蒸气的影响；敲击模式则是两者间的平衡，适合处理敏感样本。
4、接触模式，从概念上来理解，接触模式是AFM很直接的成像模式。AFM 在整个扫描成像过程之中，探针针尖始终与样品表面保持紧密的接触，而相互作用力是排斥力。扫描时，悬臂施加在针尖上的力有可能破坏试样的表面结构，因此力的大小范围在10 - 10～10 - 6 N。
5、这个AFM是不是就是你提到的“化工原子力显微镜”？（文章中没有一处出现完整名称因为你从第4页还是9页截取的）Table 2提到AFM几种工作模式：Friction Force Mode： 在探测尖端与物体表面接触时施以侧力以使悬臂弯曲。
6、原子力显微镜（AFM）是一种具备原子级别高分辨率的新型表面分析工具，不仅适用于观察导体和半导体材料的表面现象，还能分析玻璃、陶瓷等非导体表面的微观结构。AFM能直接观察在气体、水和油中的物体，无损检测，广泛应用于生命科学、物理、化学、材料科学和表面科学，展现出广阔的应用前景。
